本發(fā)明涉及一種用于X射線熒光分析法測(cè)量硅鐵中硅含量的試樣的制備方法。包括一次配料、預(yù)氧化、二次配料、熔融,一次配料是用濾紙及混合氧化劑包裹硅鐵試樣,將試料包裹成球狀;預(yù)氧化是將坩堝內(nèi)填滿石墨并將球狀試料放入石墨凹坑中,然后在高溫馬弗爐內(nèi)氧化成橢球狀試料;二次配料是在鉑金器皿鋪碘化銨脫模劑,放置冷卻好的橢球狀試料,用四硼酸鋰和偏硼酸混合熔劑覆蓋橢球狀試料;熔融是將鉑金器皿放入熔片機(jī)內(nèi),在900℃~1050℃溫度狀態(tài)下熔融19min后得到熔片即為試樣,可直接用于X射線光譜分析儀進(jìn)行分析。本發(fā)明可多樣同時(shí)制作且過(guò)程可控性簡(jiǎn)單,試驗(yàn)耗時(shí)短,制作成本低,X射線熒光分析結(jié)果準(zhǔn)確度高。
聲明:
“用于X射線熒光分析法測(cè)量硅鐵中硅含量的試樣的制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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