本發(fā)明涉及一種晶粒裂紋檢測(cè)識(shí)別方法、計(jì)算機(jī)裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)。包括：1、通過(guò)深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對(duì)橫斷面掃描電鏡圖提取邊緣紋理，獲得整體邊緣紋理圖，獲得橫斷面掃描電鏡圖上的單一顆粒的掩模圖，2、將整體邊緣紋理圖與對(duì)應(yīng)的單一顆粒的掩模圖相乘，獲得單一顆粒的邊緣紋理圖，3、將單一顆粒的邊緣紋理圖實(shí)施裂紋分割操作得到單一顆粒的裂紋二值掩模圖，4、將單一顆粒的裂紋二值掩模圖進(jìn)行形態(tài)學(xué)骨架化操作，提取出單一顆粒的裂紋結(jié)果圖。本申請(qǐng)可獲得單一顆粒的裂紋結(jié)果圖。且裂紋的檢測(cè)識(shí)別結(jié)果較為清楚和準(zhǔn)確。為后續(xù)研究奠定了良好的基礎(chǔ)。本申請(qǐng)得到的裂紋結(jié)果圖可以進(jìn)一步進(jìn)行量化分析，用于鋰電池壽命預(yù)測(cè)、正極材料設(shè)計(jì)優(yōu)化等研究。