本實(shí)用新型公開了一種用于測試透光介質(zhì)雙折射率差值的裝置,包括:SLD光源、起偏器、溫循箱、信號發(fā)生器、光電探測器和示波器;SLD光源發(fā)出的光信號進(jìn)入起偏器,起偏器尾纖與被測透光介質(zhì)尾纖以45°對軸熔接,起偏光波經(jīng)過45°熔接后進(jìn)入被測透光介質(zhì);信號發(fā)生器對被測透光介質(zhì)施加預(yù)定頻率的正弦波信號;光電探測器對由被測透光介質(zhì)傳輸延遲的光信號進(jìn)行探測,并轉(zhuǎn)換成電信號放大后輸出電信號,送達(dá)示波器;示波器獲得光電探測器輸出的電信號值。對采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算可獲得被測透光介質(zhì)雙折射率差值。利用本實(shí)用新型實(shí)施例能夠測試透光介質(zhì)尤其是鈦擴(kuò)散鈮酸鋰波導(dǎo)的雙折射率差值。
聲明:
“用于測試透光介質(zhì)雙折射率差值的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)