本實(shí)用新型屬于電性能的測(cè)試裝置,具體公開(kāi)了一種晶振電性能檢測(cè)進(jìn)料機(jī)構(gòu),包括機(jī)架,所述機(jī)架上轉(zhuǎn)動(dòng)連接有定位盤(pán),所述定位盤(pán)上沿徑向開(kāi)有檢測(cè)槽,所述檢測(cè)槽內(nèi)固定連接有電性能檢測(cè)機(jī)構(gòu)和出料機(jī)構(gòu),機(jī)架上還轉(zhuǎn)動(dòng)連接有撥料盤(pán),所述撥料盤(pán)上沿徑向設(shè)有撥爪,所述撥料盤(pán)與定位盤(pán)組成槽輪機(jī)構(gòu),所述撥料盤(pán)圓心固定連接有電機(jī),電機(jī)固定連接于機(jī)架內(nèi)。本實(shí)用新型的目的在于解決現(xiàn)有的晶振電性能檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜的問(wèn)題。
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“晶振電性能檢測(cè)進(jìn)料機(jī)構(gòu)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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