本實(shí)用新型公開了一種熱收縮薄膜性能檢測(cè)設(shè)備,包括基座、第一夾持塊、第二夾持塊和加熱裝置,所述基座頂部設(shè)置有第一夾持塊和第二夾持塊,所述基座頂部第一夾持塊和第二夾持塊之間設(shè)置有加熱裝置,所述基座頂部挖設(shè)有一組固定槽,所述第一夾持塊和第二夾持塊上均設(shè)置有第一夾持板和第二夾持板,所述第二夾持塊固定焊接在第一夾持板和第二夾持板上,所述第一夾持塊滑動(dòng)設(shè)置有第一夾持板,所述第一夾持板和第二夾持板之間設(shè)置有絲桿,所述第一夾持板和第二夾持板的相鄰側(cè)邊上設(shè)置有橡膠墊。該熱收縮薄膜性能檢測(cè)設(shè)備,設(shè)計(jì)合理,能避免薄膜拉力小不易測(cè)量,同時(shí)能在同一溫度下測(cè)量時(shí)保證溫度相差較小,適合推廣使用。
聲明:
“一種熱收縮薄膜性能檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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