本發(fā)明公開一種鍵帽組裝性能檢測(cè)方法及自動(dòng)檢測(cè)裝置,其中,鍵帽組裝性能檢測(cè)方法包括下述步驟:采用頂光和/或側(cè)光的打光方式,獲取鍵帽組裝合格的鍵盤表面樣板圖面,該樣板圖面包含了各鍵帽的位置信息;在相同光照條件下獲取待測(cè)鍵盤表面圖像;比對(duì)待測(cè)鍵盤表面圖像與鍵盤表面樣板圖面中的各鍵帽位置,當(dāng)各鍵帽位置信息差值滿足檢測(cè)精度要求時(shí),說(shuō)明鍵帽組裝合格,否則為不合格。基于該檢測(cè)方法的鍵帽組裝性能自動(dòng)檢測(cè)裝置包括裝置基座,裝置基座上固定有檢測(cè)臺(tái)及其上方的圖像采集部件,且檢測(cè)臺(tái)前、后、左、右側(cè)面分別設(shè)有光源;還包括與圖像采集部件電性連接的圖像存儲(chǔ)比對(duì)模塊,接收存儲(chǔ)鍵盤表面圖像信息、與樣板圖面進(jìn)行比對(duì)。
聲明:
“一種鍵帽組裝性能檢測(cè)方法及自動(dòng)檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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