本發(fā)明公開了一種觸控電極的電學性能檢測裝置和檢測方法,其中,該電學性能檢測裝置包括:電容形成單元和電容檢測單元,其中該電容形成單元用于與觸控電極形成電容結(jié)構(gòu),電容檢測單元用于獲取電容結(jié)構(gòu)的電容值。本發(fā)明的技術(shù)方案通過電容形成單元來與待檢測的觸控電極之間形成電容結(jié)構(gòu),然后利用電容檢測單元獲取電容結(jié)構(gòu)的電容值,此時檢測人員基于獲取到的電容結(jié)構(gòu)的電容值可對觸控電極的電學性能進行有效且準確的評估。
聲明:
“觸控電極的電學性能檢測裝置和檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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