本發(fā)明提供了一種光學(xué)傳感器性能檢測方法,其使用一種制冷檢測裝置,該裝置包括主機(jī)體,所述主機(jī)體頂部設(shè)有太陽能蒸發(fā)機(jī)構(gòu),還包括連接太陽能蒸發(fā)機(jī)構(gòu)和主機(jī)體之間的支架底座,所述支架底座上還設(shè)置有驅(qū)動太陽能蒸發(fā)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)向的轉(zhuǎn)向機(jī)構(gòu),所述主機(jī)體內(nèi)設(shè)有溶解吸熱腔,所述溶解吸熱腔內(nèi)設(shè)有飽和溶液結(jié)晶腔,位于所述溶解吸熱腔下方的所述主機(jī)體左側(cè)端壁上開設(shè)有吹風(fēng)口;本發(fā)明的一種光學(xué)傳感器性能檢測方法在整體結(jié)構(gòu)上更加合理和巧妙,使用起來也非常方便,通過具有吸熱反應(yīng)的鹽溶解吸熱降溫,同時將鹽溶液通過太陽能加速蒸發(fā)成飽和濃溶液,最后通過降溫結(jié)晶的方式將溶解的鹽結(jié)晶回收,并重復(fù)利用。
聲明:
“一種光學(xué)傳感器性能檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)