本發(fā)明公開(kāi)了一種干式空心電抗器的低溫性能檢測(cè)方法,干式空心電抗器試品包括至少一個(gè)繞組包封,繞組包封包括:繞制的導(dǎo)線,在導(dǎo)線外部繞制的絕緣材料,以及在導(dǎo)線與絕緣材料之間布置的應(yīng)力片。檢測(cè)方法包括:建立用于對(duì)干式空心電抗器試品進(jìn)行低溫性能檢測(cè)的連通回路,包括:調(diào)壓器、試驗(yàn)變壓器、高壓開(kāi)關(guān)、補(bǔ)償電容器、干式空心電抗器試品以及低溫試驗(yàn)箱,調(diào)壓器與試驗(yàn)變壓器相連,高壓開(kāi)關(guān)與試驗(yàn)變壓器、補(bǔ)償電容器以及干式空心電抗器試品組成檢測(cè)回路,通過(guò)高壓開(kāi)關(guān)的閉合或斷開(kāi)控制檢測(cè)回路的導(dǎo)通或截止。本發(fā)明采用新的干式空心電抗器進(jìn)行低溫性能試驗(yàn),可實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境溫度和運(yùn)行狀況相近條件下進(jìn)行干式空心電抗器低溫性能試驗(yàn)。
聲明:
“一種干式空心電抗器低溫性能檢測(cè)方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)