本實用新型公開了磷酸二氫鉀晶體坯片性能檢測裝置,涉及磷酸二氫鉀晶體性能檢測技術領域,包括分光光度計本體和晶體胚片,所述分光光度計本體的右端槽內(nèi)安裝有用于控制分光光度計本體的旋鈕和控制面板,所述分光光度計本體的左側(cè)壁開設有用于檢查的檢測孔,所述檢測孔的內(nèi)壁連接有移動結(jié)構,所述移動結(jié)構連接有傳動結(jié)構,所述傳動結(jié)構連接有擋板,所述擋板連接有轉(zhuǎn)軸,所述轉(zhuǎn)軸與檢測孔側(cè)壁開設的橫孔貼合轉(zhuǎn)動連接,所述移動結(jié)構的頂部從前到后依次固定連接有弧形支撐板和凸塊,所述弧形支撐板開設有滑槽;通過上述方式,本實用新型方便在更換晶片時進行校零,保證了下組晶體胚片檢測時處于標準檢測狀態(tài)。
聲明:
“磷酸二氫鉀晶體坯片性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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