本發(fā)明公開(kāi)了一種控制電路板的電性能檢測(cè)設(shè)備，其包括：一個(gè)測(cè)試臺(tái)架、一個(gè)測(cè)試單元、一個(gè)頭架及一個(gè)檢測(cè)控制單元。測(cè)試單元包括：一個(gè)測(cè)試板、多個(gè)上電端子、多個(gè)檢測(cè)端子及多個(gè)測(cè)試端子。頭架包括：一對(duì)檢測(cè)頭支撐柱、一個(gè)梁架、一個(gè)升降導(dǎo)軌、一個(gè)升降壓板及多個(gè)壓針。檢測(cè)控制單元包括，多個(gè)輸入端口、多個(gè)輸出驅(qū)動(dòng)端口及一個(gè)控制器。本發(fā)明中提供控制電路板的電性能檢測(cè)設(shè)備。本發(fā)明可根據(jù)對(duì)具有多傳感器觸發(fā)輸入端的控制板檢測(cè)，同時(shí)加載多個(gè)傳感器觸發(fā)信息，提高了控制電路板的自動(dòng)化程度且可有效防止漏檢的情況出現(xiàn)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、易于實(shí)施。