本實(shí)用新型提供的存儲(chǔ)器
芯片的性能檢測(cè)裝置包括:主體(7);用于連接存儲(chǔ)器芯片的芯片連接裝置(8);用于輸入清空指令的操作按鍵(9);以及控制模塊(10);芯片連接裝置(8)和操作按鍵(9)分別設(shè)置在主體(7)的外表面,控制模塊(10)設(shè)置在主體(7)的內(nèi)部,控制模塊(10)包括用于根據(jù)所輸入的清空指令對(duì)存儲(chǔ)器芯片執(zhí)行清空操作、在清空操作完成之后輸出表示清空成功的電信號(hào)的清空單元(11),操作按鍵(9)和芯片連接裝置(8)分別與控制模塊(10)的清空單元(11)電連接。采用本實(shí)用新型提供的性能檢測(cè)裝置可以避免頻繁更換機(jī)車存儲(chǔ)器芯片,降低檢修成本,并提高機(jī)車運(yùn)行安全性。
聲明:
“一種存儲(chǔ)器芯片的性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)