本實(shí)用新型公開(kāi)一種用于PID性能檢測(cè)后的
太陽(yáng)能電池的檢測(cè)設(shè)備,其包括恒壓電源、控制器、暗室及設(shè)在暗室內(nèi)的測(cè)試平臺(tái)、測(cè)試探針排與成像裝置,測(cè)試平臺(tái)包括絕緣部和導(dǎo)電部,太陽(yáng)能電池放在導(dǎo)電部上,測(cè)試探針排用于測(cè)試時(shí)抵壓在太陽(yáng)能電池主柵線上;導(dǎo)電部與恒壓電源一端連接,測(cè)試探針排與恒壓電源的另一端連接;太陽(yáng)能電池的正極與恒壓電源的負(fù)極連接,太陽(yáng)能電池的負(fù)極與恒壓電源的正極連接,恒壓電源對(duì)電池供電;控制器用于調(diào)節(jié)恒壓電源的電壓或電流從而實(shí)現(xiàn)對(duì)電池通電電壓和時(shí)長(zhǎng)調(diào)節(jié);成像裝置用于對(duì)太陽(yáng)能電池拍照。本實(shí)用新型提供的檢測(cè)設(shè)備,便于后續(xù)通過(guò)照片識(shí)別太陽(yáng)能電池漏電位置、類型和大小,進(jìn)而利于判定PID超標(biāo)問(wèn)題的原因。
聲明:
“一種用于PID性能檢測(cè)后的太陽(yáng)能電池的檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)