本實用新型涉及PTC發(fā)熱
芯片技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種PTC發(fā)熱芯性能檢測裝置,包括盒體,所述盒體內(nèi)部中端水平焊接有固定板,所述盒體內(nèi)部兩側(cè)上端中部均開設(shè)有豎槽,所述豎槽內(nèi)滑動設(shè)置有滑柱,兩個所述滑柱之間連接有板體,所述板體下端均勻安裝有多個溫度測試針,所述固定板上端兩側(cè)與板體下端兩側(cè)之間連接有彈簧,所述盒體內(nèi)部下端通過滑動機構(gòu)滑動設(shè)置有移動架,所述移動架內(nèi)部安裝有多個U型盒,所述U型盒內(nèi)部卡設(shè)有PTC芯片本體,所述U型盒一側(cè)上端開設(shè)有貫穿U型盒的圓孔,所述盒體一側(cè)下端開設(shè)有方形孔,所述盒體一側(cè)上端安裝有LED顯示器。本實用新型結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,能夠一次性對多個PTC發(fā)熱芯片進行溫度檢測,且操作便捷。
聲明:
“一種PTC發(fā)熱芯性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)