本發(fā)明公開了一種微波暗室場地性能檢測用調(diào)節(jié)支架及檢測系統(tǒng)，包括水平支架，水平支架上設(shè)置有水平軌道，水平軌道上安裝有可沿其水平移動(dòng)的水平托盤；水平托盤上安裝有一維方位轉(zhuǎn)臺(tái)，一維方位轉(zhuǎn)臺(tái)上設(shè)置有豎直支架；豎直支架上安裝有升降機(jī)構(gòu)，升降機(jī)構(gòu)包括升降帶，升降帶上安裝有用于安裝微波信號(hào)接收裝置的安裝臺(tái)；本發(fā)明通過水平托盤可帶動(dòng)微波信號(hào)接收裝置在同一水平面上橫向移動(dòng)，通過一維方位轉(zhuǎn)臺(tái)可實(shí)現(xiàn)微波信號(hào)接收裝置的方位旋轉(zhuǎn)，通過升降機(jī)構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)微波信號(hào)接收裝置高度的調(diào)節(jié)，進(jìn)而可以實(shí)現(xiàn)微波信號(hào)接收裝置在微波暗室空間內(nèi)不同位置處接收微波信號(hào)，提升微波暗室的檢測效率。