本實用新型公開了一種
芯片性能檢測探針臺,探針臺底座上設置第一XY位移絲桿,升降旋轉模組包括升降臺、角度旋轉臺和樣品臺,樣品臺設置在角度旋轉臺上,角度旋轉臺設置在升降臺上,升降臺固定在升降第一XY位移平臺上以帶動升降旋轉模組在探針臺底座的X軸和Y軸移動;探針組件包括探針以及固定定位探針的探針定位器,探針定位器設置在探針臺底座上,探針臺底座上還設置龍門架,龍門架上設置第二XY位移平臺,相機和顯微鏡通過固定板連接第二XY位移平臺以使得能夠沿龍門架的X軸和Y軸移動。本實用新型可以實現(xiàn)被測試樣品的精密位置移動,可以讓顯微鏡XY軸精密移動,通過樣品臺和顯微鏡的配合,快速精準的找到芯片樣品被測點快速完成測試。
聲明:
“一種芯片性能檢測探針臺” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)