本實(shí)用新型提供一種電熱性能檢測(cè)系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括信號(hào)發(fā)生器、高壓放大器、變溫臺(tái)、熱探針、原子力顯微鏡主控器、探針信號(hào)控制器和信號(hào)采集與處理器。所述方法包括以下步驟:通過變溫臺(tái)對(duì)熱探針進(jìn)行標(biāo)定;高壓放大器提供電壓對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行電熱激勵(lì);熱探針感知待測(cè)樣品的溫度變化,并以電信號(hào)輸出;探針信號(hào)控制器對(duì)熱探針輸出的電信號(hào)進(jìn)行檢測(cè),并由信號(hào)采集與處理器進(jìn)行采集;信號(hào)采集與處理器根據(jù)采集到的電信號(hào)和標(biāo)定數(shù)據(jù)得到待測(cè)樣品的溫度變化情況,再結(jié)合待測(cè)樣品上施加的電壓,獲得其電熱性能參數(shù)。本實(shí)用新型能對(duì)材料微觀和宏觀電熱性能進(jìn)行直接測(cè)量,且準(zhǔn)確度高,適用性廣。
聲明:
“一種電熱性能檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)