本實用新型公開了用于半導體性能檢測的測試臺,包括檢測機構、支撐機構,所述檢測機構包括工作臺、工具盒、檢測面板,所述工作臺內側安裝有所述工具盒,所述工作臺上端面安裝有所述檢測面板,所述檢測面板后部設置有靜電除塵網,所述檢測面板一側安裝有顯示屏,所述檢測面板上方設置有支架,所述支架內側安裝有溫度掃描儀。本實用新型結構簡單,設計合理,生產成本低,可以同時檢測若干個半導體,極大的提高了工作效率,同時方便調節(jié)裝置的高度,實用性高。
聲明:
“用于半導體性能檢測的測試臺” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)