本實用新型公開了一種半導(dǎo)體在不同溫度下性能檢測設(shè)備,包括:檢測箱,所述檢測箱前后端分別通過鉸鏈轉(zhuǎn)動安裝有密封門,所述檢測箱內(nèi)腔表面安裝有若干個加熱管,所述檢測箱內(nèi)腔上端安裝有兩個溫度監(jiān)測模塊,所述檢測箱內(nèi)腔安裝有兩個可升降移動的升降架。本實用新型中,通過隔熱板,可以使其檢測箱內(nèi)形成兩個腔室,每個腔體通過不同的加熱管可以形成不同溫度,從而能夠使得半導(dǎo)體在一次檢測后,可以直接進入預(yù)設(shè)好溫度的第二個腔室內(nèi)進行二次檢測,提高了檢測的效率,并且通過可密封的隔熱板,可以防止兩個腔室內(nèi)的溫度相互影響,通過C型槽可以套接插入半導(dǎo)體的兩端,將其架起懸空,使得半導(dǎo)體每個面都能接觸到溫度。
聲明:
“一種半導(dǎo)體在不同溫度下性能檢測設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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