本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電子產(chǎn)品外殼的性能檢測(cè)裝置,包括底座,底座上固定有轉(zhuǎn)軸,轉(zhuǎn)軸穿過(guò)第一樣品盤(pán)、第二樣品盤(pán),第一樣品盤(pán)位于底座上方并與底座連接,第二樣品盤(pán)位于第一樣品盤(pán)上方并與轉(zhuǎn)軸固定,所述第一樣品盤(pán)上以轉(zhuǎn)軸為圓心設(shè)置至少三個(gè)環(huán)形槽,所述環(huán)形槽內(nèi)放置有標(biāo)樣,所述標(biāo)樣向上與放置于第二樣品盤(pán)底部的待測(cè)樣接觸,第二樣品盤(pán)底部的兩端設(shè)置有固定片。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低并且能夠快速合理的判斷出待測(cè)物的抗劃性能是否達(dá)標(biāo)。
聲明:
“一種電子產(chǎn)品外殼的性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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