本申請(qǐng)公開(kāi)了一種基于電荷量的絕緣介質(zhì)絕緣性能檢測(cè)方法,包括如下:將待測(cè)試樣與所述測(cè)試電路進(jìn)行串聯(lián)連接;接通電源時(shí),串聯(lián)回路中的電流相同,因此,可用積分電容上的電荷量信息表示待測(cè)試樣上的電荷量信息。根據(jù)試樣上的電荷量信息,分別計(jì)算得到試樣上的電流信息、電導(dǎo)率信息、介電常數(shù)、電容、電荷注入閾值、載流子遷移率以及電荷量變化比率等參數(shù),通過(guò)以上參數(shù)判斷待測(cè)試樣的絕緣性能。本申請(qǐng)?zhí)岣吡藴y(cè)試靈敏性和穩(wěn)定性;同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)片狀試樣的測(cè)試以及對(duì)整體絕緣件的測(cè)試。
聲明:
“一種基于電荷量的絕緣介質(zhì)絕緣性能檢測(cè)方法及裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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