本發(fā)明公開一種顯示模組中肖特基二極管的性能檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法，該檢測(cè)系統(tǒng)包括：標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)、選擇調(diào)用模塊、電壓源模塊、測(cè)試模塊、數(shù)據(jù)處理模塊和輸出模塊，根據(jù)SD器件型號(hào)存儲(chǔ)多組標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)組形成標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)，多組標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)組中的電壓值按標(biāo)準(zhǔn)增幅梯次遞增；選擇調(diào)用模塊用于選擇SD器件的型號(hào)；電壓源模塊用于輸出正向和反向的直流電壓至SD器件兩端，輸入正向直流電壓時(shí)按第一增幅梯次遞增，輸入反向直流電壓時(shí)按第二增幅梯次遞增；測(cè)試模塊用于導(dǎo)通SD器件兩端，形成電壓值與電流值的檢測(cè)數(shù)據(jù)組，并將該檢測(cè)數(shù)據(jù)組發(fā)送至數(shù)據(jù)處理模塊；數(shù)據(jù)處理模塊將檢測(cè)數(shù)據(jù)組與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)組進(jìn)行比對(duì)；輸出模塊用于輸出檢測(cè)結(jié)果。