一種光學(xué)性能檢測(cè)裝置，包括光源、接收內(nèi)外透鏡、反射裝置、光強(qiáng)檢測(cè)裝置、位移控制裝置、數(shù)據(jù)處理裝置以及設(shè)定裝置，所述光源發(fā)射光束，并被反射裝置反射，反射光束先后經(jīng)由接收外透鏡、內(nèi)透鏡，打到光強(qiáng)檢測(cè)裝置上；位移控制裝置根據(jù)需要不斷移動(dòng)反射裝置，數(shù)據(jù)處理裝置根據(jù)光強(qiáng)檢測(cè)裝置所檢測(cè)的光強(qiáng)信息、以及位移控制裝置所多次生成的位移信息，計(jì)算所需光學(xué)性能參數(shù)，并進(jìn)行存儲(chǔ)，之后通過(guò)比較所檢測(cè)的多個(gè)性能參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)值與預(yù)定誤差，評(píng)價(jià)待測(cè)對(duì)象的性能，其中設(shè)定裝置根據(jù)光電裝置對(duì)待測(cè)對(duì)象的光學(xué)性能要求，調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)值與誤差的設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)；本發(fā)明采用控制變量法與比較法，能夠判斷待測(cè)對(duì)象是否在既定的光電裝置光學(xué)性能要求范圍內(nèi)。