本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N晶振探頭性能檢測(cè)系統(tǒng),包括:服務(wù)器以及與服務(wù)器通信連接的數(shù)據(jù)庫(kù)、晶振探頭、驅(qū)動(dòng)裝置、晶振儀和位置接收器。驅(qū)動(dòng)裝置用于驅(qū)動(dòng)晶振探頭旋轉(zhuǎn),位置接收器用于獲取晶振片的位置信號(hào),晶振儀用于獲取晶振片的頻率信號(hào),服務(wù)器用于基于獲取的頻率信號(hào)對(duì)晶振片的接觸性能進(jìn)行檢測(cè)。本申請(qǐng)能夠自動(dòng)檢測(cè)晶振片的接觸性能,并且能夠確保檢測(cè)質(zhì)量。
聲明:
“晶振探頭性能檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)