本實用新型公開了一種激光
芯片光電性能檢測裝置,包括設有第一安裝座的底板,第一安裝座上滑動安裝有第一動力裝置驅動的滑座,滑座上設有檢測臺;底板上還滑動安裝有光強檢測機構,光強檢測機構的滑動方向與滑座的滑動方向垂直設置;位于滑座和光強檢測機構之間的底板設有水平發(fā)散角檢測機構,水平發(fā)散角檢測機構的檢測端設有第一光電傳感器、并繞豎直軸心線進行擺動檢測,位于第一安裝座一端的底板設有豎直發(fā)散角檢測機構,豎直發(fā)散角檢測機構的檢測端設有第二光電傳感器、并繞水平軸心線進行擺動檢測。實現(xiàn)了在同一臺設備上完成光強、水平和豎直發(fā)散角的檢測,無需多次定位和移動,簡化了檢測流程,減少了檢測時間,提高了檢測效率和檢測精度。
聲明:
“一種激光芯片光電性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)