本發(fā)明提供的一種基于電子元件性能數(shù)據(jù)的元件篩選方法及系統(tǒng),涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領域。在本發(fā)明中,基于獲取的性能檢測設備對多個待檢測的電子元件分別進行的多次性能檢測處理得到的多組性能檢測數(shù)據(jù)進行解析處理,得到每一個電子元件的性能是否存在異常的解析結(jié)果,其中,每一組性能檢測數(shù)據(jù)包括對應的一個電子元件通過進行多次性能檢測得到的多條性能檢測數(shù)據(jù);基于電子元件對應的解析結(jié)果確定是否將電子元件作為篩選出的目標電子元件;若電子元件對應的解析結(jié)果為電子元件的性能不存在異常,則將電子元件作為篩選出的目標電子元件。采用以上步驟對電子元件進行篩選,可以提高對電子元件進行篩選的可靠性。
聲明:
“一種基于電子元件性能數(shù)據(jù)的元件篩選方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)