本發(fā)明提供一種薄膜鍍層質(zhì)量及超聲波緊固件的質(zhì)量檢測(cè)方法,薄膜鍍層質(zhì)量檢測(cè)方法,薄膜鍍層形成在具有平整表面的基材上,檢測(cè)方法包括:厚度檢測(cè),用于檢測(cè)薄膜鍍層的厚度;附著力檢測(cè),用于檢測(cè)薄膜鍍層與基材之間的附著力;耐磨性能檢測(cè),用于檢測(cè)薄膜鍍層的耐磨性能;氣候性能檢測(cè),用于檢測(cè)氣候參數(shù)對(duì)薄膜鍍層的性能影響;和/或,耐腐蝕性能檢測(cè),用于檢測(cè)薄膜鍍層的耐腐蝕性能。本發(fā)明通過對(duì)薄膜鍍層的多種性能參數(shù)進(jìn)行檢測(cè),可以更加全面、準(zhǔn)確地掌握薄膜鍍層的性能,提高其可靠性,以減少或避免使用中失效或損壞情況的發(fā)生。
聲明:
“一種薄膜鍍層質(zhì)量及超聲波緊固件的質(zhì)量檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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