本申請公開了一種高分子材料的表征裝置,包括:機體;控制器;設置在所述機體上,用于輸送高分子薄膜的輸送機構;設置在所述機體上,并通過與所述控制器配合對被輸送的所述高分子薄膜進行光學性能檢測的光學檢測機構;設置在所述機體上,能夠?qū)Ρ惠斔偷乃龈叻肿颖∧みM行裁切的裁切機構;設置在所述機體上,并通過與所述控制器配合對裁切得到的薄膜樣品進行力學性能檢測的力學檢測機構。上述的表征裝置,不僅實現(xiàn)了對高分子薄膜的高通量表征,而且還實現(xiàn)了對高分子薄膜多項性能的表征,能夠顯著的提升
新材料的研發(fā)效率。
聲明:
“一種高分子材料的表征裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)