本發(fā)明涉及電學性能檢測裝置技術領域，尤其是涉及一種可調(diào)節(jié)式探針裝置?？烧{(diào)節(jié)式探針裝置包括底座、第一電路板、橫向調(diào)節(jié)裝置、第一縱向調(diào)節(jié)裝置和多根檢測探針；檢測探針與第一電路板可拆卸連接；第一電路板與第一縱向調(diào)節(jié)裝置連接；第一縱向調(diào)節(jié)裝置與橫向調(diào)節(jié)裝置連接；橫向調(diào)節(jié)裝置與底座連接。本發(fā)明提供的可調(diào)節(jié)式探針裝置，通過將檢測探針可拆卸的設置在電路板上，使得既能夠改變檢測探針的數(shù)量，又能夠根據(jù)檢測探針的安裝位置，改變檢測探針的間距，在進行電學性能檢測時，不需要制備多個探針臺，減少了使用成本；通過縱向調(diào)節(jié)裝置和橫向調(diào)節(jié)裝置的設置，使得檢測探針的檢測位置調(diào)節(jié)方便，增加了探測范圍。
聲明：
“可調(diào)節(jié)式探針裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月25日 ~ 27日 
