本發(fā)明適用于電路測試領(lǐng)域,提供了一種壓敏電阻的測試方法,所述方法包括下述步驟:在被測壓敏電阻的兩端加載高頻率交流電,所述交流電的電壓低于被測壓敏電阻的標(biāo)稱額定電壓;在與被測壓敏電阻相連的旁路元件的高點(diǎn)端接入隔離所述旁路元件的隔離電路;計(jì)算被測壓敏電阻的電容值,將被測壓敏電阻的電容值與設(shè)定的閾值范圍進(jìn)行比較,判斷被測壓敏電阻是否為良品。通過本發(fā)明可以大大提高壓敏電阻電性能檢測的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性,能夠有效地檢查出FPC上搭載的壓敏電阻的各項(xiàng)電性能不良,實(shí)現(xiàn)完全的電性能檢查。
聲明:
“一種壓敏電阻的測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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