本發(fā)明提供一種RFID設(shè)備測(cè)試方法及系統(tǒng),其中,該系統(tǒng)包括:信號(hào)生成裝置,用于根據(jù)預(yù)定規(guī)則生成測(cè)試信號(hào);數(shù)模轉(zhuǎn)換裝置,用于將測(cè)試信號(hào)轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號(hào);信號(hào)收發(fā)裝置,用于將中頻模擬信號(hào)發(fā)送給射頻標(biāo)簽、以及接收來自射頻標(biāo)簽的響應(yīng)信號(hào);模數(shù)轉(zhuǎn)換裝置,用于將響應(yīng)信號(hào)轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號(hào);性能檢測(cè)裝置,用于根據(jù)中頻數(shù)字信號(hào)檢測(cè)射頻標(biāo)簽的性能。通過本發(fā)明,可以提高測(cè)試效率。
聲明:
“RFID設(shè)備測(cè)試方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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