本發(fā)明公開(kāi)了一種多級(jí)壓縮率可調(diào)靜密封測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置,包括:泄漏檢測(cè)口、密封端蓋、實(shí)驗(yàn)箱體、介質(zhì)入口、介質(zhì)出口、測(cè)試密封圈一、測(cè)試密封圈二、測(cè)試密封圈三、氣體傳感器、外密封。實(shí)驗(yàn)箱體固定在工作臺(tái)上,密封端蓋與實(shí)驗(yàn)箱體固定連接。密封端蓋錐面處開(kāi)有多個(gè)密封溝槽,以實(shí)現(xiàn)不同外圈直徑、截面尺寸的單道密封圈及雙道、多道O型圈等多級(jí)密封的密封性能測(cè)試。通過(guò)更換密封端蓋與箱體間的墊圈調(diào)節(jié)兩者間距離以實(shí)現(xiàn)不同預(yù)壓縮率下的密封性能檢測(cè)。
聲明:
“一種多級(jí)壓縮率可調(diào)靜密封測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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