本發(fā)明公開了一種電路板檢測方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì),其中,電路板檢測方法包括:獲取待檢測電路板的待測點信息;獲取電路板檢測方的可檢點數(shù)以及對應(yīng)的可檢點序號;當待測點的數(shù)量大于一個電路檢測方的可檢點數(shù)時,逐一獲取各條連接網(wǎng)絡(luò)中的待檢測點的最大序號;當最大序號落入一個電路檢測方的可檢點序號范圍內(nèi)時,將連接網(wǎng)絡(luò)中的所有待檢測點均分派至一個電路檢測方;電路檢測方用于對其被分派的待檢測點進行電學(xué)性能檢測,得到初步檢測結(jié)果;獲取各個電路檢測方的初步檢測結(jié)果,得到待檢測電路板的檢測結(jié)果。通過執(zhí)行本發(fā)明中的方法,能夠提高對待檢測電路板的檢測效率。
聲明:
“一種電路板檢測方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)