本發(fā)明公開(kāi)了一種激光Bar條
芯片自動(dòng)檢測(cè)裝置,包括機(jī)座,機(jī)座上設(shè)置有放置座,放置座上設(shè)置Bar條盒,機(jī)座上設(shè)置有Bar條檢測(cè)裝置;機(jī)座上水平滑動(dòng)安裝有由檢測(cè)工位切換動(dòng)力裝置驅(qū)動(dòng)的檢測(cè)平臺(tái);機(jī)座上設(shè)置有Bar條轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu),機(jī)座上設(shè)置有芯片位置檢測(cè)裝置、供電裝置,機(jī)座上位于芯片檢測(cè)工位的一側(cè)還設(shè)置有對(duì)芯片發(fā)光性能進(jìn)行檢測(cè)的發(fā)光性能檢測(cè)裝置。該自動(dòng)檢測(cè)裝置能夠?qū)ar條盒內(nèi)的Bar條自動(dòng)送至檢測(cè)平臺(tái)上,然后再對(duì)Bar條上的芯片進(jìn)行位置檢測(cè),從而方便每個(gè)芯片準(zhǔn)確供電,方便對(duì)Bar條上所有芯片的發(fā)光性能進(jìn)行全檢。
聲明:
“一種激光Bar條芯片自動(dòng)檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)