本發(fā)明公開了免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設備,包括底板,所述底板的上表面邊側固定連接有制冷箱;所述制冷箱和制熱箱的上端內(nèi)壁均固定連接有定位臂,所述第二密封板的內(nèi)部嵌入設置有動力磁鐵;所述制冷箱和制熱箱的上表面邊側均通過支架和檢測箱的下表面相連接;所述檢測箱的邊側外壁固定連接有定位套管;所述檢測箱的上端內(nèi)壁螺紋連接有密封蓋,所述鎖定套管的內(nèi)部嵌入設置有推動磁鐵。該免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設備加強了溫度檢測范圍,且檢測設備進行溫度檢測的效率增加,降低了電路性能檢測的成本提升,同時檢測設備便于檢測電路抗磁場干擾的能力。
聲明:
“免調(diào)試的射頻發(fā)射和接收集成電路性能的檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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