本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N高溫?zé)峁苄阅艿臋z測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),主要技術(shù)方案包括采用第一加熱方式加熱待檢測(cè)高溫?zé)峁?,使高溫?zé)峁苓_(dá)到滿負(fù)荷狀態(tài);當(dāng)高溫?zé)峁苓_(dá)到滿負(fù)荷狀態(tài)時(shí),檢測(cè)冷卻高溫?zé)峁芩璧睦鋮s介質(zhì)的流量、冷卻介質(zhì)的出口溫度及冷卻介質(zhì)的入口溫度;根據(jù)冷卻介質(zhì)的流量、冷卻介質(zhì)的出口溫度及冷卻介質(zhì)的入口溫度計(jì)算高溫?zé)峁艿妮敵龉β?;根?jù)高溫?zé)峁艿臋M截面積及輸出功率,計(jì)算高溫?zé)峁軡M負(fù)荷工作時(shí)的熱流密度;根據(jù)熱流密度判斷高溫?zé)峁艿男阅?。與相關(guān)技術(shù)直接以加熱器的功率作為高溫?zé)峁艿妮敵龉β氏啾?,通過計(jì)算得到的滿負(fù)荷狀態(tài)下的熱流密度,實(shí)現(xiàn)了高溫?zé)峁茌敵龉β实木珳?zhǔn)測(cè)量,進(jìn)而提高了高溫?zé)峁艿男阅軝z測(cè)的準(zhǔn)確性。
聲明:
“高溫?zé)峁苄阅艿臋z測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)