本發(fā)明涉及光學(xué)復(fù)合薄膜的性能檢測,具體涉及一種光學(xué)復(fù)合薄膜剝離強(qiáng)度的檢測方法。本發(fā)明提供一種光學(xué)復(fù)合薄膜剝離強(qiáng)度的檢測方法,所述光學(xué)復(fù)合薄膜包括第一基材、膠黏劑和第二基材,第一基材和第二基材通過膠黏劑復(fù)合在一起,所述檢測方法包括下述步驟:(1)將光學(xué)復(fù)合薄膜用酮類溶劑浸泡;(2)將通過步驟(1)浸泡的光學(xué)復(fù)合薄膜用鑷子或利器挑開一個口子,露出測試的兩邊,放入烘箱中熟化;(3)檢測步驟(2)熟化后的光學(xué)復(fù)合薄膜的剝離強(qiáng)度。該檢測方法主要針對熱固型膠黏劑體系,在產(chǎn)品下線后的2小時內(nèi)即可做剝離強(qiáng)度測試,發(fā)現(xiàn)性能不合格可及時做生產(chǎn)調(diào)整,不用等到產(chǎn)品最終熟化后才做測試,避免了產(chǎn)品出現(xiàn)批量性的不合格損失。
聲明:
“一種光學(xué)復(fù)合薄膜剝離強(qiáng)度的檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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