該發(fā)明公開了一種基于深度學(xué)習(xí)的輻射源個(gè)體識(shí)別方法,涉及輻射源個(gè)體識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域。通過特征提取,然后輸入神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行輻射源個(gè)體的識(shí)別,在神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中加入過濾層,本發(fā)明過濾層的作用是在每個(gè)訓(xùn)練批次中,選擇性的讓一半的隱層節(jié)點(diǎn)值為0,可以明顯地減少過擬合現(xiàn)象;這種方式可以減少特征檢測(cè)器(隱層節(jié)點(diǎn))間的相互作用,降低過擬合、提升性能檢測(cè)器相互作用是指某些檢測(cè)器依賴其他檢測(cè)器才能發(fā)揮作用,通過上述技術(shù)方案本發(fā)明能夠準(zhǔn)確識(shí)別各輻射個(gè)體。
聲明:
“一種基于深度學(xué)習(xí)的輻射源個(gè)體識(shí)別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)