本專利為一種航天器太陽(yáng)翼熱試驗(yàn)用測(cè)控溫回路檢測(cè)裝置，該裝置基于繼電器矩陣設(shè)計(jì)了一種高集成度、多通道電性能檢測(cè)電路模塊，通過(guò)測(cè)控資源模塊和信號(hào)激勵(lì)模塊的設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)對(duì)檢測(cè)電路的控制及信號(hào)采集，并對(duì)檢測(cè)裝置的控制策略進(jìn)行設(shè)計(jì)，最終實(shí)現(xiàn)對(duì)太陽(yáng)翼熱試驗(yàn)用測(cè)、控溫線路及其裝置的導(dǎo)通、絕緣等電性能的自動(dòng)化檢測(cè)，進(jìn)而確保試驗(yàn)電裝工藝的質(zhì)量。該裝置實(shí)現(xiàn)了單次最多49通道測(cè)溫回路、15通道控溫回路導(dǎo)通、絕緣性能的自動(dòng)化檢測(cè)，將檢測(cè)用時(shí)由手動(dòng)8分鐘縮短至不大于20s，為試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)工藝實(shí)施人員提供了一種有效的測(cè)試手段，提高了測(cè)控溫回路的檢測(cè)效率及可靠性。