本實(shí)用新型公開了一種射頻
芯片以及測(cè)試系統(tǒng),射頻芯片包括基板、天線以及測(cè)試點(diǎn),天線固設(shè)于所述基板;所述測(cè)試點(diǎn)與所述天線電連接,并通過測(cè)試線連接至測(cè)試設(shè)備。以解決現(xiàn)有技術(shù)中射頻芯片在進(jìn)行性能檢測(cè)時(shí)測(cè)試結(jié)果容易被影響的技術(shù)問題。
聲明:
“一種射頻芯片以及測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)