本實(shí)用新型公開(kāi)一種PCBA探針檢測(cè)裝置，其包括固定機(jī)構(gòu)、及分別設(shè)置于所述固定機(jī)構(gòu)上、下方的第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)和第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)；所述固定機(jī)構(gòu)包括檢測(cè)基座，所述檢測(cè)基座包括第一檢測(cè)區(qū)域、第二檢測(cè)區(qū)域、第三檢測(cè)區(qū)域和第四檢測(cè)區(qū)域；所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括第一探針組件和第二探針組件，所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括第三探針組件和第四探針組件，所述第一探針組件、第二探針組件、第三探針組件和第四探針組件均與待檢測(cè)的PCBA觸點(diǎn)抵接。本實(shí)用新型結(jié)合設(shè)置所述固定機(jī)構(gòu)、第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)和第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)平穩(wěn)固定待檢測(cè)的PCBA的前提下，同時(shí)獲取其正面和背面的檢測(cè)結(jié)果，進(jìn)而得到精準(zhǔn)度高的PCBA電氣性能檢測(cè)結(jié)果。