本實(shí)用新型公開了一種調(diào)制器和陣列基板檢測(cè)系統(tǒng),屬于顯示領(lǐng)域。調(diào)制器包括:調(diào)制器本體、透明導(dǎo)電膜、電源和電流檢測(cè)組件;調(diào)制器本體包括相對(duì)設(shè)置的內(nèi)部電極和金箔層,以及位于所述內(nèi)部電極和所述金箔層之間的液晶層;所述透明導(dǎo)電膜設(shè)置在所述金箔層遠(yuǎn)離所述液晶層的一面上,且與所述金箔層之間形成有間隙;所述金箔層和所述透明導(dǎo)電膜分別與所述電源的不同極電連接,所述電流檢測(cè)組件串聯(lián)在所述金箔層與所述電源之間,或者所述電流檢測(cè)組件串聯(lián)在所述透明導(dǎo)電膜與所述電源之間。本實(shí)用新型減少了陣列基板上異物劃傷調(diào)制器金箔層的幾率,相應(yīng)地降低了陣列基板檢測(cè)的成本。本實(shí)用新型用于陣列基板的性能檢測(cè)。
聲明:
“調(diào)制器和陣列基板檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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