本發(fā)明公開了一種航天器器件位移損傷劑量探測(cè)方法,屬于核技術(shù)中的輻射探測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。首先使用輻射源對(duì)集成有LED與PD的光電耦合器進(jìn)行刻度,獲得歸一化時(shí)光電耦合器的電流傳輸比倒數(shù)的增量與位移損傷劑量的響應(yīng)曲線。然后用地面位移損傷效應(yīng)測(cè)試評(píng)估輻射源對(duì)光電耦合器進(jìn)行輻照,獲得光電耦合器電流傳輸比倒數(shù)的增量。根據(jù)具體輻照時(shí)光電耦合器電流傳輸比倒數(shù)的增量,響應(yīng)曲線中查找出與之對(duì)應(yīng)的位移損傷劑量值,即可探測(cè)出此時(shí)的位移損傷劑量。本發(fā)明克服了通常試驗(yàn)?zāi)M源非理想單能及次級(jí)輻射的影響;相比現(xiàn)有的僅用LED做位移損傷探測(cè),測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)單實(shí)用,消除了光學(xué)耦合引入的誤差。
聲明:
“一種航天器器件位移損傷劑量探測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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