本發(fā)明提供了一種用于檢測微流控
芯片的干式化學分析儀,包括升降機構(gòu)、離心機構(gòu)、芯片保持機構(gòu),所述的芯片保持機構(gòu)設置有用于鎖緊微流控芯片的芯片固定部件、用于頂壓微流控芯片樣品槽內(nèi)液體試劑預封裝裝置的芯片穿刺部件,所述的芯片穿刺部件固定在所述的芯片固定部件上,所述的芯片固定部件與所述離心機構(gòu)連接,所述的升降機構(gòu)帶動所述離心機構(gòu)進行升降運動。本發(fā)明的用于檢測微流控芯片的干式化學分析儀及微流控芯片,對樣品槽頂部設有液體試劑預封裝裝置刺破端的微流控芯片能實現(xiàn)全程自動化,只需要將待檢樣本加入芯片中,芯片的進入、分離、定位、檢測都可以實現(xiàn)自動化,能快速分離檢測得出各項指標,免去手動轉(zhuǎn)移芯片和按壓刺破芯片的步驟,大大提高了檢測效率。
聲明:
“用于檢測微流控芯片的干式化學分析儀及微流控芯片” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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