用于分析干式化學測試元件的方法和裝置,特別是免疫測試元件,通過光學掃描分析干式化學測試元件,測量光束離開載有一種或多種固定化光活性物質的測試元件化驗區(qū),通過檢測器檢測各自測量光強度。包括步驟:第一化驗區(qū)光學掃描過程中,第一測量光強度的測量光束離開第一化驗區(qū),根據掃描參數的第一設置選擇掃描參數,對檢測器裝置的工作范圍和照射到其上測量光束的第一光量,相對彼此進行調整,第二化驗區(qū)光學掃描過程中,區(qū)別于第一測量光強度的第二測量光強度測量光束離開第二化驗區(qū),根據區(qū)別于掃描參數第一設置的掃描參數第二設置選擇掃描參數,對檢測器裝置的工作范圍和照射到其上的測量光束第二光量,相對于彼此進行調整。
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