本發(fā)明一種芯片基微電化學(xué)池原位多場(chǎng)分析測(cè)試裝置、方法及應(yīng)用，屬于化學(xué)、材料和能源的原位電學(xué)/電化學(xué)/光學(xué)測(cè)試和機(jī)理研究技術(shù)領(lǐng)域；包括反應(yīng)池主體、帶孔透明板、樣品臺(tái)；反應(yīng)池主體的環(huán)形槽內(nèi)盛有電解液，帶孔透明板蓋于電解液槽上，其中心孔作為觀(guān)察窗；通過(guò)樣品臺(tái)將芯片基微電化學(xué)池壓置于帶孔透明板的下表面，兩者之間通過(guò)疏水墊圈；參比電極和對(duì)電極分別通過(guò)防水穿線(xiàn)螺栓安裝于參比電極連接孔和對(duì)電極連接孔內(nèi)，其一端均與電解液接觸，另一端外接電化學(xué)工作站；導(dǎo)線(xiàn)一端與芯片基微電化學(xué)池的樣品微區(qū)連接，另一端外接電化學(xué)工作站。本發(fā)明能夠同時(shí)進(jìn)行原位電學(xué)/電化學(xué)/光學(xué)等多場(chǎng)分析，節(jié)省時(shí)間，操作簡(jiǎn)便，測(cè)試成功率高。