本發(fā)明公開了一種XRF分析試樣化學(xué)成分的方法及其工作曲線的制作方法,其中工作曲線的制作方法包括如下步驟:制備標(biāo)準(zhǔn)樣品的分析樣片;采用相同的儀器工作條件分別測(cè)量各種類標(biāo)準(zhǔn)樣品分析樣片中各化學(xué)成分X射線熒光強(qiáng)度;其中每一種類標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)量的化學(xué)成分包括待檢測(cè)樣品中全部的可測(cè)定化學(xué)成分;分別確定各種類樣品中各化學(xué)成分對(duì)應(yīng)的工作曲線的斜率和截距:通過對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品中某一化學(xué)成分的已知質(zhì)量百分含量與測(cè)量得到的該化學(xué)成分的熒光強(qiáng)度按設(shè)定的工作曲線表達(dá)式進(jìn)行回歸分析,從而確定該種類標(biāo)準(zhǔn)樣品中該化學(xué)成分對(duì)應(yīng)的工作曲線的斜率和截距。本發(fā)明提高了XRF分析的準(zhǔn)確性和操作方便性。
聲明:
“XRF分析試樣化學(xué)成分的方法及其工作曲線的制作方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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