本發(fā)明公開了一種用于分析電極材料
電化學(xué)性能的同步輻射X射線衍射裝置及其應(yīng)用。所述裝置包括組件A和組件B,所述組件A包括不銹鋼板a、Be玻璃窗a和絕緣板,所述不銹鋼板a和絕緣板上均設(shè)有通孔,所述Be玻璃窗a位于不銹鋼板a與絕緣板之間的通孔處,且通過固定不銹鋼板a和絕緣板使Be玻璃窗a固定于其間;所述組件B包括不銹鋼板b和Be玻璃窗b,所述不銹鋼板b上設(shè)有通孔,所述Be玻璃窗b通過固定件絕緣固定在不銹鋼板b的通孔內(nèi);且所述組件A與組件B間固定連接。本發(fā)明裝置可實現(xiàn)X射線透射式或反射式進行原位或非原位測定電極材料的同步輻射X射線衍射數(shù)據(jù),且可重復(fù)利用,具有極大的應(yīng)用價值。
聲明:
“用于分析電極材料電化學(xué)性能的同步輻射X射線衍射裝置及其應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)