本發(fā)明提供了一種用于檢測(cè)分析物的方法,其中,所述分析物由與該分析物有關(guān)的一個(gè)或多個(gè)標(biāo)記物進(jìn)行標(biāo)記,所述方法包括:A)在經(jīng)標(biāo)記的所述分析物上進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)方法以便從所述一個(gè)或多個(gè)標(biāo)記物獲得光學(xué)數(shù)據(jù);B)在經(jīng)標(biāo)記的所述分析物上進(jìn)行電學(xué)檢測(cè)方法以便從所述一個(gè)或多個(gè)標(biāo)記物獲得電學(xué)數(shù)據(jù);和C)由所述光學(xué)數(shù)據(jù)和電學(xué)數(shù)據(jù)確定所述分析物的身份和/或數(shù)量。本發(fā)明還提供了一種用于檢測(cè)多個(gè)分析物的方法,其中,各個(gè)不同的所述分析物由與該分析物有關(guān)的一個(gè)或多個(gè)不同標(biāo)記物進(jìn)行標(biāo)記,所述方法包括:A)在多個(gè)經(jīng)標(biāo)記的分析物上進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)方法以便從所述標(biāo)記物獲得光學(xué)數(shù)據(jù);B)在所述多個(gè)經(jīng)標(biāo)記的分析物上進(jìn)行電化學(xué)檢測(cè)方法以便從所述標(biāo)記物獲得電學(xué)數(shù)據(jù);和C)由所述光學(xué)數(shù)據(jù)和電學(xué)數(shù)據(jù)確定所述多個(gè)分析物的身份和/或數(shù)量。