本發(fā)明涉及
分析檢測技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種帶有對稱參比電極的封閉式雙極電極陣列的分析檢測裝置,包括多個(gè)對稱設(shè)置在承載層上的反應(yīng)池A陣列、反應(yīng)池B陣列,反應(yīng)池A包括雙極電極的端點(diǎn)A、驅(qū)動電極A以及參比電極A,反應(yīng)池B包括雙極電極的端點(diǎn)B、驅(qū)動電極B以及參比電極B;所述端點(diǎn)A和端點(diǎn)B僅通過承載層上的導(dǎo)電層中位于兩端點(diǎn)之間的導(dǎo)電條帶陣列互相連接,驅(qū)動電極A、參比電極A、驅(qū)動電極B以及參比電極B通過所述導(dǎo)電層與外界電源連接。本發(fā)明采用擁有對稱參比電極的封閉式雙極電極陣列可有效地解決現(xiàn)有封閉式雙極電極在電沉積、
電化學(xué)修飾端點(diǎn)A陣列和端點(diǎn)B陣列時(shí)難以精準(zhǔn)控制的問題,拓展了雙極電極在分析檢測領(lǐng)域上的應(yīng)用前景。
聲明:
“帶有對稱參比電極的封閉式雙極電極陣列的分析檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)